Evaluation of Fault-tolerant Composite Field AES S-Boxes under Multiple Transient Faults

Type de document :
Communication dans un congrès
IEEE International NEWCAS Conference, Jun 2013, Paris, France. pp.1 - 4, 2013
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Contributeur : Admin Télécom Paristech <>
Soumis le : vendredi 4 avril 2014 - 14:12:39
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:23:39

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  • HAL Id : hal-00973720, version 1

Citation

Ting An, Lirida Alves de Barros Naviner, Philippe Matherat. Evaluation of Fault-tolerant Composite Field AES S-Boxes under Multiple Transient Faults. IEEE International NEWCAS Conference, Jun 2013, Paris, France. pp.1 - 4, 2013. 〈hal-00973720〉

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