Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2013
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https://imt.hal.science/hal-01062108
Soumis le : mardi 9 septembre 2014-11:17:39
Dernière modification le : jeudi 15 février 2024-11:29:03
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01062108 , version 1
Citer
Samuel Nascimento Pagliarini, Arwa Ben Dhia, Lirida Naviner, J. F. Naviner. SNaP: a Novel Hybrid Method for Circuit Reliability Assessment Under Multiple Faults. Microelectronics Reliability, 2013, pp.1230-1234. ⟨hal-01062108⟩
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