SNaP: a Novel Hybrid Method for Circuit Reliability Assessment Under Multiple Faults

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Microelectronics Reliability, Elsevier, 2013, pp.1230–1234
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Soumis le : mardi 9 septembre 2014 - 11:17:39
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:23:39

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Citation

Samuel Nascimento Pagliarini, Arwa Ben Dhia, Lirida Alves de Barros Naviner, J. F. Naviner. SNaP: a Novel Hybrid Method for Circuit Reliability Assessment Under Multiple Faults. Microelectronics Reliability, Elsevier, 2013, pp.1230–1234. 〈hal-01062108〉

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