SNaP: a Novel Hybrid Method for Circuit Reliability Assessment Under Multiple Faults

Samuel Nascimento Pagliarini 1 Arwa Ben Dhia 1 Lirida Alves de Barros Naviner 1 J. F. Naviner 1
1 LTCI - Laboratoire Traitement et Communication de l'Information
Type de document :
Article dans une revue
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2013, pp.1230–1234
Liste complète des métadonnées
https://hal-imt.archives-ouvertes.fr/hal-01062108
Contributeur : Admin Télécom Paristech <>
Soumis le : mardi 9 septembre 2014 - 11:17:39
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:23:39

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  • HAL Id : hal-01062108, version 1

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Citation

Samuel Nascimento Pagliarini, Arwa Ben Dhia, Lirida Alves de Barros Naviner, J. F. Naviner. SNaP: a Novel Hybrid Method for Circuit Reliability Assessment Under Multiple Faults. Microelectronics Reliability, Elsevier, 2013, pp.1230–1234. 〈hal-01062108〉

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