Automatic Selective Hardening Against Soft Errors: a Cost-based and Regularity-aware Approach

Samuel Nascimento Pagliarini 1 Arwa Ben Dhia 1 Lirida Alves de Barros Naviner 1 J. F. Naviner 1
1 LTCI - Laboratoire Traitement et Communication de l'Information
Type de document :
Communication dans un congrès
IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems (ICECS), Dec 2012, Sevilla, Spain. pp.753-756, 2012
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https://hal-imt.archives-ouvertes.fr/hal-01062119
Contributeur : Admin Télécom Paristech <>
Soumis le : mardi 9 septembre 2014 - 11:22:05
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:23:39

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  • HAL Id : hal-01062119, version 1

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Citation

Samuel Nascimento Pagliarini, Arwa Ben Dhia, Lirida Alves de Barros Naviner, J. F. Naviner. Automatic Selective Hardening Against Soft Errors: a Cost-based and Regularity-aware Approach. IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems (ICECS), Dec 2012, Sevilla, Spain. pp.753-756, 2012. 〈hal-01062119〉

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