Accurate Reliability Analysis of Concurrent Checking Circuits Employing An Efficient Analytical Method

Ting An 1 Kaikai Liu 1 Hao Cai 1 Lirida Alves de Barros Naviner 1
1 LTCI - Laboratoire Traitement et Communication de l'Information
Abstract : ---
Keywords : Concurrent error detection Multiple faults Reliability Radiation-related effects
Type de document :
Article dans une revue
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2015, 55 (3-4), pp.696-703
Liste complète des métadonnées
https://hal-imt.archives-ouvertes.fr/hal-01122423
Contributeur : Admin Télécom Paristech <>
Soumis le : mardi 3 mars 2015 - 18:44:02
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:23:39

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  • HAL Id : hal-01122423, version 1

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Citation

Ting An, Kaikai Liu, Hao Cai, Lirida Alves de Barros Naviner. Accurate Reliability Analysis of Concurrent Checking Circuits Employing An Efficient Analytical Method. Microelectronics Reliability, Elsevier, 2015, 55 (3-4), pp.696-703. 〈hal-01122423〉

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