Article Dans Une Revue
Journal of Low Power Electronics
Année : 2012
TelecomParis HAL : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://telecom-paris.hal.science/hal-02286422
Soumis le : vendredi 13 septembre 2019-15:43:41
Dernière modification le : lundi 9 octobre 2023-12:49:43
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02286422 , version 1
Citer
Hao Cai, J. F. Naviner, H. Petit. A Hierarchical Reliability Simulation Methodology for AMS Integrated Circuits and Systems. Journal of Low Power Electronics, 2012, 8 (5). ⟨hal-02286422⟩
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