SNaP: a Novel Hybrid Method for Circuit Reliability Assessment Under Multiple Faults

Samuel Nascimento Pagliarini 1 Arwa Ben Dhia 1 Lirida Alves de Barros Naviner 1 J. F. Naviner 1
1 LTCI - Laboratoire Traitement et Communication de l'Information
Type de document :
Communication dans un congrès
European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Oct 2013, Arcachon, France. pp.1230–1234, 2013
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Contributeur : Admin Télécom Paristech <>
Soumis le : mardi 9 septembre 2014 - 10:50:37
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  • HAL Id : hal-01062078, version 1

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Citation

Samuel Nascimento Pagliarini, Arwa Ben Dhia, Lirida Alves de Barros Naviner, J. F. Naviner. SNaP: a Novel Hybrid Method for Circuit Reliability Assessment Under Multiple Faults. European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Oct 2013, Arcachon, France. pp.1230–1234, 2013. 〈hal-01062078〉

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